高溫蒸煮老化試驗箱廣泛套用於醫療器件消毒，工業上線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測。
基本介紹
- 中文名：高溫蒸煮老化試驗箱
- 控制方式：微電腦PID控制
- 控制精度：(+/-)0.5℃
- 解析精度：0.1℃
規格,性能,控制系統：,
規格
內箱尺寸: 300×500 mm(φ×D)圓形試驗箱.
外箱尺寸: 700×1450×650 mm(W×H×D).
內箱材質: SUS 304#不鏽鋼板材質.
外箱材質：鋼板烤漆。
性能
操作環境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.
1.溫度範圍: 110℃/ 132℃. (飽和蒸氣溫度).
2.濕度範圍: 100%RH . (飽和蒸氣濕度).
3.壓力範圍: 0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點壓力(安全壓力容量3.5Kg/cm2 ).
4.時間範圍: 0 ~ 999 小時可調.
5.溫度分布:(+/-)2.0℃.
6.升溫時間:RT ~ 132℃約35分鐘內. （控制點溫度）
7.加壓時間:0.0Kg/cm2~ 2.0Kg/cm2約40分鐘內（控制點壓力）。
控制系統：
1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器.
2.本系統符合高壓加速老化之可靠度試驗規格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…
3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.
