蒸汽老化試驗箱適用於電子連線器、半導體IC、電晶體、二極體、液晶LCD、晶片電阻電容、零組件產業、電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗
基本介紹
- 中文名：蒸汽老化試驗箱
- 型號：CRS-ZQ
- 內部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm
- 外部尺寸：600×500×420（W×H×D）mm
簡介,結構特點,技術規格參數,
簡介
蒸汽老化試驗箱適用於電子連線器、半導體IC、電晶體、二極體、液晶LCD、晶片電阻電容、零組件產業、電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。微電腦溫度控制器、LED數字顯示，PID+SSR控制，白金電阻溫度感測器（PT100），解析度0.1℃，。
結構特點
老化箱整體不鏽鋼SUS #304 HL製成，操作設定簡易 微電腦數位LED控制，具時間規劃功能，最大可設定9,990Mins 多重超溫保護/缺水切電熱等安全裝置。 零件、連線器被動元件，半導體接腳高溫高濕氧化試驗。 金屬接腳沾錫性試驗加速老化試驗。 採用式PID+SSR溫度控制器，同時具有時間計時功能，最大可設定9990分式無限。
技術規格參數
內外箱體材質：SUS304#優質不鏽鋼板
保溫層：PV發泡膠
升溫時間:大約40分鐘 ；控制功能:PID+SSR,數字式顯示
蒸氣溫度: 97℃
計時功能：1～9999分鐘，附時到報警功能，時間到達後切斷電源
水位控制：附水箱自動補水
電源：1? 220V±10% 50Hz 3.0KW
