餘輝測量系統

餘輝測量系統是一種用於材料科學領域的科學儀器，於2015年11月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：餘輝測量系統
• 產地：中國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2015年11月11日

技術指標

波長範圍：200-650nm； 動態範圍：1-10000； 誤差：小於10%。

主要功能

閃爍材料的餘輝測量。