顆粒粒度測量技術及套用

內容簡介

本書是作者所在團隊多年來科研成果的總結，反映和代表了我國目前顆粒粒度測量技術的水平。內容包括顆粒系統的基本知識、光散射基本理論及基於光散射原理的顆粒測量方法和技術，超聲散射的基本原理和基於超聲的顆粒測量方法和技術，顆粒測量套用中的一些問題等。

本書適合於從事顆粒材料測量、加工、製造行業的工程技術人員、研究人員、實驗人員以及高校師生。

圖書目錄

第1章顆粒基本知識1

1.1 概述1

1.2 顆粒的幾何特性2

1.2.1 顆粒的形狀2

1.2.2 顆粒的比表面積3

1.2.3 顆粒的密度3

1.3 顆粒粒度及粒度分布4

1.3.1 單個顆粒的粒度4

1.3.2 顆粒群的粒徑分布6

1.3.3 顆粒群的平均粒度11

1.4 標準顆粒13

1.5 顆粒測量中的顆粒分散問題16

1.5.1 顆粒分散方法概述17

1.5.2 常見問題討論18

參考文獻19

第2章光散射基本理論21

21衍射散射基本理論21

211惠更斯菲涅耳原理21

212巴卑涅原理23

213衍射的分類24

214夫琅和費單縫衍射25

215夫琅和費圓孔衍射26

22光散射基本理論28

221光散射概述28

222光散射基本知識29

223經典Mie光散射理論32

23幾何光學對散射的描述49

231概述49

232計算方法49

24非平面波的散射理論54

241廣義Mie理論54

242基本理論54

243波束因子的區域近似計算59

244高斯波束入射60

245數值結果61

參考文獻62

第3章散射光能顆粒測量技術65

31概述65

32基於衍射理論的雷射粒度儀67

321衍射散射式雷射粒度儀的基本原理67

322多元光電探測器各環的光能分布69

323衍射散射法的數據處理方法72

33基於Mie散射理論的雷射粒度儀76

34影響雷射粒度儀測量精度的幾個因素79

341接收透鏡焦距的合理選擇79

342被測試樣的濃度80

343被測試樣軸向位置的影響82

344被測試樣折射率的影響84

345光電探測器對中不良的影響85

346儀器的檢驗86

35雷射粒度儀測量下限的延伸86

351倒置傅立葉變換光學系統88

352雙鏡頭技術89

353雙光源技術90

354偏振光散射強度差(PIDS)技術90

355全方位多角度技術91

356國產雷射粒度儀的新發展93

顆粒粒度測量技術及套用

基本介紹

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