非球面測量系統裝置是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的科學儀器,於2009年3月25日啟用。
基本介紹
- 中文名:非球面測量系統裝置
- 產地:英國
- 學科領域:工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期:2009年3月25日
非球面測量系統裝置是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的科學儀器,於2009年3月25日啟用。
非球面測量系統裝置是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的科學儀器,於2009年3月25日啟用。技術指標最大輸出壓力:1.0MPA。1主要功能迴轉體,反射鏡及透鏡類零件的鏡面加工。1...
全自動三維非球面測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2014年10月8日啟用。技術指標 形狀測量重複性<100納米, 測量直徑超過200毫米, 全自動調新調平, 非球面分析軟體。主要功能 1.形狀誤差測量,包括非球面形狀誤差測量、直線形狀誤差(直線度)和圓弧; 2.輪廓測量,包括半徑和角度分析; 3.表面粗糙度...
非球面測量系統 非球面測量系統是一種用於信息科學與系統科學、物理學領域的物理性能測試儀器,於2006年05月04日啟用。技術指標 測量口徑120mm以下,精度0.05um.。主要功能 測量球面、非球面的面形精度、粗糙度。
非接觸式三維非球面光學面形測量系統 非接觸式三維非球面光學面形測量系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 1、球面面形(PV)精度≤50nm; 2、半徑測量精度△R/R≤0.01%。主要功能 光學參數測試。
研究基於液晶空間光調製器非球面CGH動態檢測方法,通過改進計算全息圖編碼方法,研究基於雙誤差補償的閉環反饋控制方法,提高液晶空間光調製器產生計算全息圖的精度;搭建非球面CGH動態檢測系統,利用像差平衡法降低計算全息圖的空間頻寬積,擴大非球面尺寸檢測範圍。本項目是將液晶相控陣技術和自適應光學技術套用於全息干涉...
《基於雙迴轉相位板的複雜面形拼接測量理論與方法》是依託中國人民解放軍國防科技大學,由陳善勇擔任項目負責人的面上項目。中文摘要 大口徑凸非球面、柱面甚至自由曲面等複雜面形在大型望遠鏡、光刻物鏡、慣性約束聚變等光學系統中的套用越來越多,是直接影響系統性能的重要元件,其高、中、低頻面形誤差要求都很苛刻。...
精密微納製造技術全國重點實驗室的前身為機械製造系統工程國家重點實驗室(State Key Laboratory for Manufacturing Systems Engineering),於1989年立項;1995年10月通過驗收並對外開放運行;2022年建設成為精密微納製造技術全國重點實驗室。實驗室圍繞機械製造系統工程的前沿方向和國家需求,在學科前沿研究方面,重點在增材...