雷紹充，男，博士，西安交通大學教授，博士生導師。
基本介紹
- 中文名：雷紹充
- 職業：教師
- 學位/學歷：博士
- 專業方向：數字積體電路設計、VLSI測試與可測性設計
- 任職院校：西安交通大學
個人經歷,主講課程,研究方向,學術成果,榮譽獎項,
個人經歷
1990年畢業留校任教，碩士師從施仁先生，方向為自動控制專業自動測試技術與裝置。
博士師從邵志標先生，方向為微電子學專業VLSI設計、測試與可測性設計。
主講課程
《VLSI測試方法與可測性設計》、《SOC測試》。
研究方向
數字積體電路設計、VLSI測試與可測性設計、ECC加密算法及硬體實現電氣、儀表與計算機控制系統電子電路設計。
學術成果
| 目編號 | 項目名稱 | 項目來源 | 起訖時間 | 承擔角色 | 項目類別 |
|---|---|---|---|---|---|
SGTJ0000KXJS140006 | 國家電網2014科技項目《變壓器繞組變形線上監測晶片的關鍵技術研製》 | 國務院各部委項目 | 2014-1~ | 負責人 | 縱向項目 |
陝XXX | 金融領域安全IC卡和密碼關鍵產品 | 其他 | 2013-6~ | 負責人 | 縱向項目 |
陝發13-8 | ECC加密算法及硬體實現 | 其他 | 2013-6~ | 負責人 | 縱向項目 |
61306048 | 產品測試和BIST環境下數模混合信號積體電路頻譜測試與數據處理的理論和算法研究 | 國家自然科學基金項目 | 2013-12~ | 骨幹成員 | 縱向項目 |
61006033 | 基於軟體的同構多核處理器測試與診斷方法研究 | 國家自然科學基金項目 | 2010-12~ | 骨幹成員 | 縱向項目 |
20011205 | 電動機啟動測試分析系統 | 其他 | 2001-1~ | 骨幹成員 | 橫向項目 |
| 名稱 | 申請號 | 專利類型 | 申請日期 |
|---|---|---|---|
一種多維相似壓縮電路 | 發明 | 2015.04.20 | |
掐頭去尾移位補值電路 | 發明 | 2013.10.28 | |
去頭去尾移位電路 | 發明 | 2013.10.28 | |
一種單線串列匯流排協定及轉換電路 | 201310488846.X | 發明 | 2013.10.18 |
一種平方電路 | 201310488728.9 | 發明 | 2013.10.18 |
一種掐頭去尾電路 | 201310488789.5 | 發明 | 2013.10.18 |
一種計1器電路 | 201310488850.6 | 發明 | 2013.10.18 |
數字積體電路測試數據的壓縮生成方法 | 201010256212.8 | 發明 | 2010.08.18 |
一種積體電路的測試圖形生成器及其測試方法 | 201010103360.6 | 發明 | 2010.01.29 |
一種積體電路的測試圖形生成器及其測試方法 | 200910023396 | 發明 | 2009.07.21 |
積體電路的複合掃描單元 | 200910021873.X | 發明 | 2009.04.03 |
一種積體電路的測試圖形生成器 | 200910021525.2 | 發明 | 2009.03.13 |
| 論文標題 | 作者 | 發表/完成日期 | 期刊名稱 |
|---|---|---|---|
Test patterns of multiple SIC vectors: theory and application in BIST schemes | 梁峰Feng Liang; Luwen Zhang; Shaochong Lei; 等 | 2013-04-05 | IEEE Trans. on VLSI |
An Optimized Seed-based Pseudo-random Test Pattern Generator: Theory and Implementation | Sun Haijun(孫海珺), Zeng Yongjia(曾永甲), Li Pu(李璞), Lei | 2011-12-17 | JETTA |
Design of Four-wave Oscillating Cellular-Neural-Network | Zhang Guohe(張國和), Lei SC, M Tanaka, BG Kumar | 2011-06-28 | IEICE |
A unified solution to reduce test power and test volume for Test-per-scan schemes | Shaochong Lei, Zhen Wang(王震), Zeye Liu(劉澤葉) | 2010-09-09 | IEICE Electronics Express |
A Low Power Test Pattern Generator for BIST | Lei SC, Feng L(梁峰), Liu ZY(劉澤葉), Wang XY(王曉瑛) | 2010-05-04 | IEICE Trans. Electronics |
Explore the Limits to Reduce Test Power | Lei SC, Jiang ZW, and D M H Walker | 2008-10-31 | IEEE D3T-2008 |
A Class of SIC Circuits: Theory and Application in BIST Design | Lei SC, Hou XY(侯學彥), Shao ZB(邵志標), Liang Feng | 2008-01-03 | IEEE Trans.Circuits and System II |
| 出版物 | 作者 | 出版日期 | 出版社 |
|---|---|---|---|
雷紹充，梁峰，張鴻，張國和 | 2011-12-30 | 西安交通大學出版社 | |
雷紹充，邵志標，梁峰 | 2008-05-01 | 電子工業出版社 |
榮譽獎項
| 獎項名稱 | 獲獎年份 | 獎項類型 | 獎項等級 | 申報部門 |
|---|---|---|---|---|
VLSI測試方法學的建立與發展 | 2010 | 其他 | 二等獎 | 陝西省教育廳 |
| 成果名稱 | 年 | 獎項等級 | 項目完成人 | 申報單位 |
|---|---|---|---|---|
VLSI測試 | 2011 | 二等獎 | 雷紹充，邵志標，梁峰 | 電信學院 |
