雷射誘導擊穿光譜

雷射誘導擊穿光譜(英語:Laser-induced breakdown spectroscopy,LIBS) 技術通過超短脈衝雷射聚焦樣品表面形成電漿,進而對電漿發射光譜進行分析以確定樣品的物質成分及含量。超短脈衝雷射聚焦後能量密度較高,可以將任何物態(固態、液態、氣態)的樣品激發形成電漿,LIBS技術(原則上)可以分析任何物態的樣品,僅受到雷射的功率以及攝譜儀&檢測器的靈敏度和波長範圍的限制。。再者,幾乎所有的元素被激發形成電漿後都會發出特徵譜線,因此,LIBS可以分析大多數的元素。如果要分析的材料的成分是已知的,LIBS可用於評估每個構成元素的相對豐度,或監測雜質的存在。在實踐中,檢測極限是:a)電漿激發溫度的函式,b)光收集視窗,以及c)所觀查的過渡譜線的強度。LIBS利用光學發射光譜,並且是該程度非常類似於電弧/火花發射光譜。

基本介紹

  • 中文名:雷射誘導擊穿光譜
  • 外文名:Laser Induced Breakdown Spectroscopy
  • 別名:雷射誘導電漿光譜
簡介,硬體構成,拉曼光譜學,參閱,

簡介

雷射誘導擊穿光譜(英語:Laser-induced breakdown spectroscopy,LIBS) 技術通過超短脈衝雷射聚焦樣品表面形成電漿,進而對電漿發射光譜進行分析以確定樣品的物質成分及含量。超短脈衝雷射聚焦後能量密度較高,可以將任何物態(固態、液態、氣態)的樣品激發形成電漿,LIBS技術(原則上)可以分析任何物態的樣品,僅受到雷射的功率以及攝譜儀&檢測器的靈敏度和波長範圍的限制。再者,幾乎所有的元素被激發形成電漿後都會發出特徵譜線,因此,LIBS可以分析大多數的元素。如果要分析的材料的成分是已知的,LIBS可用於評估每個構成元素的相對豐度,或監測雜質的存在。在實踐中,檢測極限是:a)電漿激發溫度的函式,b)光收集視窗,以及c)所觀查的過渡譜線的強度。LIBS利用光學發射光譜,並且是該程度非常類似於電弧/火花發射光譜。
LIBS在技術上是非常相似的一些其它基於雷射的分析技術,共享許多相同的硬體。這些技術是拉曼光譜學的振動光譜技術,雷射誘導螢光(LIF)的螢光光譜技術。實際上,現在設備已經被製造成在單個儀器中結合這些技術,允許樣品原子的,分子的和結構的特徵研究,以給予物理性質的一個更深入的了解。

硬體構成

1064nm Nd:YAG脈衝雷射器,脈寬約為10ns,經聚焦後能量密度達到1GW/cm。
光譜儀包括分光部分和光電轉換模組。

拉曼光譜學

拉曼光譜學是用來研究晶格分子振動模式、旋轉模式和在一系統里的其他低頻模式的一種分光技術。拉曼散射為一非彈性散射,通常用來做激發的雷射範圍為可見光近紅外光或者在近紫外光範圍附近。雷射與系統聲子做相互作用,導致最後光子能量增加或減少,而由這些能量的變化可得知聲子模式。這和紅外光吸收光譜的基本原理相似,但兩者所得到的數據結果是互補的。
通常,一個樣品被一束雷射照射,照射光點被透鏡所聚焦且通過分光儀分光。波長靠近雷射的波長時為彈性瑞利散射
自發性的拉曼散射是非常微弱的,並且很難去分開強度相對於拉曼散射高的瑞利散射,使得得到的結果是光譜微弱,導致測定困難。歷史上,拉曼分光儀利用多個光柵去達到高度的分光,去除雷射,而可得到能量的微小差異。過去,光電倍增管被選擇為拉曼散射訊號的偵測計,其需要很久的時間才能得到結果。而現今的技術,帶阻濾波器(notch filters) 可有效地去除雷射且光譜儀傅立葉變換光譜儀和電荷耦合元件(CCD) 偵測計的進步,在科學研究中,利用拉曼光譜研究材料特性越來越廣泛。
有很多種的拉曼光譜分析,例如表面增強拉曼效應、針尖增強拉曼效應、偏極拉曼光譜等。

參閱

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們