離子顯微成像分析系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2006年3月31日啟用。
基本介紹
- 中文名:離子顯微成像分析系統
- 產地:美國
- 學科領域:工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期:2006年3月31日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 圖像分析儀
離子顯微成像分析系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2006年3月31日啟用。
離子顯微成像分析系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2006年3月31日啟用。技術指標量子效應>72%以上。1主要功能離子測定及細胞形態分析。1...
主要包括四部分:①能夠產生加速和聚焦一次離子束的離子源;②樣品室和二次離子引出裝置;③能把二次離子按質荷比分離的質量分析器;④二次離子檢測和顯示系統及計算機數據處理系統等(見圖)。套用 元素檢測 能檢測包括氫在內的、元素...
雙束型聚焦離子束顯微分析系統是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2011年12月18日啟用。技術指標 1.電子束系統解析度:0.9nm(15kv)/1.4nm(1kv)2.離子束系統解析度:在束交叉點:4.5nm@30kV(統計測量法)在束交叉點:2...
商用系統的離子源為液相金屬離子源(liquid metal Ion source,LMIS),金屬材質為鎵(Gallium,Ga),因為鎵元素具有低熔點、低蒸氣壓及良好的抗氧化力。離子光學系統主要包括聚焦成像的靜電透鏡系統、束對中器、消像散器、質量分析器和束...
聚焦離子束(Focused Ion beam,簡稱FIB)是一種利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的顯微切割儀器。FIB是將離子源(大多數FIB都用Ga,也有設備具有He和Ne離子源)產生的離子束經過離子槍加速,聚焦後作用於樣品表面。基本信息 商用系統...
顯微鏡成像系統以非攝影方式獲取微觀世界的影像,並可以對獲取的圖片進行圖像分析的系統。簡介 通過逐點、逐行、逐面快速掃描成像,並通過數據線連線到計算機上進行圖像分析。由顯微鏡攝像頭+圖像分析軟體組合而成的系統,一般被稱為顯微影像...
顯微成像流式分析系統是一種用於基礎醫學、臨床醫學領域的分析儀器,於2011年8月31日啟用。技術指標 藍光雷射器488nm,100mW,紫外雷射器405nm,100mW,紅光雷射器658nm,120mW。暗視野雷射器785nm 。配備40X/.75NA、60X/.9NA和20X...
超長工作距離顯微成像系統是一種用於基礎醫學、藥學、中醫學與中藥學領域的分析儀器,於2017年12月28日啟用。技術指標 記錄體外培養的神經元活動,腦片上的神經元活動,在體神經元樹突和樹突棘活動,不同動物模型的環路分析,行為動物中的...
離子探針顯微分析(ion probe micro-analysis)是2016年公布的化學名詞。定義 超高真空條件下以聚焦離子束轟擊樣品,通過次級離子成像及對所選微區離子的荷質比分析而獲得表面微區化學結構的分析方法。出處 《化學名詞》第二版。
更為重要的是,SPM作為靜態觀察,還可以實現動態成像,按分子設計製備具有特定功能的生物零件、生物機器、將生物系統和微機械有機地結合起來。在微機械加工方面:由於SPM 的針尖曲率半徑小,且與樣品之間的距離很近(<1nm),在針尖與樣品...
雙光子顯微成像系統是一種用於基礎醫學領域的科學儀器,於2016年3月30日啟用。技術指標 (1)活體成像用正置顯微鏡及光學系統,內置電動Z軸10nm精度;(2)用於活體成像可升降全電動平台;(3)雙光子專用飛秒雷射器;(4)掃描系統;(...
4. 掃描電子顯微成像配備多種探頭,適用於不同的樣品和工作模式:ETD和TLD,ICD,可伸縮的STEM探頭,配合減速模式(BD)使用的MD探頭。5. 離子束成像配備ETD和ICE探頭,配備UC mode 過濾系統。7. 兩種不同成像模式:Mode I和Mode II...
2.微分干涉相襯顯微術 微分干涉相襯(Differential Interference Contrast, DIC)顯微術是目前一些較高端的倒置顯微鏡中通常會配備的另一種相襯技術,但相比基於澤尼克法,這種技術實現起來要相對複雜一些,也更昂貴一些。在DIC系統中,需採用...
研究級全電動正置螢光顯微成像分析系統是一種用於基礎醫學領域的分析儀器,於2016年10月18日啟用。技術指標 Nikon獨有的分層結構可使一個顯微鏡同時具備兩路光路以適用於各類不同的套用。此結構可提供螢光照明與濾鏡轉盤或光活化組件的雙層...