離子注入半導體瞬時退火設備

該發明為離子注入半導體瞬時退火設備,屬於積體電路半導體器件製造技術的工藝設備。

基本介紹

  • 中文名:離子注入半導體瞬時退火設備
  • 專利號:8510 0131
  • 專利權人清華大學
  • 發明人: 錢佩信等
簡介,套用,特點,成就,

簡介

其發明特徵是該設備由機械傳動和控制機構、變色紅外接觸式測溫儀、高頻加熱爐、充保護氣裝置和石英退火腔等五部分組成,整個退火過程在充保護氣條件下進行,利用高頻感應加熱石墨板作為熱源,熱處理時樣品位於兩塊石墨板之間,石墨板從兩面加熱樣品。

套用

該發明既適於製作1μm短溝超大規模積體電路和淺PN結(結深為0.2μm)器件,又適合於離子注入半導體退火,還能用於絕緣層上多晶矽再結晶、磷矽玻璃回流、難溶金屬矽化物形成和淺PN結的 歐姆結製作。

特點

與已往退火設備比較,樣品升溫快;設備簡單,操作方便,生產效率高;被退火的矽片不翹曲,不發生晶體滑移;採用石英退火腔既容易清洗又能較好地避免重金屬離子沾污;電激活率高且注入離子再擴散小。

成就

1984年以來,全國12個單位套用了該發明設備13台,有效地促進了科研、教學的發展,避免進口同類產品,為國家節省了大量外匯;每台設備若每年工作300小時,可節約14萬度電;設備成本低,性能好,在國際市場上有較強的競爭能力。

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