雙頭加強型勞厄X射線原位晶體定向儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2015年12月15日啟用。
基本介紹
- 中文名：雙頭加強型勞厄X射線原位晶體定向儀
- 產地：美國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2015年12月15日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
相機成相感測器可輸入區域大小：143,52 × 96,04 mm 相機曝光時間：1毫秒-20分鐘 相機可用增益範圍：10:1 X射線源光斑大小：0.7 mm X射線源最小通量：鉬靶108光子，鎢靶3×108光子 三軸測角儀參數：Rx/Ry旋轉範圍±28°，誤差0.001°；360°旋轉基底誤差0.001°；X/Y方向位移範圍±10 mm，Z方向位移範圍5 mm。
主要功能
使用X射線源發出的X射線照射單晶樣品，能夠在相機的CCD獲得的照片上觀測到衍射現象，通過對這些衍射點的分析，可測定晶體取向。根據所得勞厄衍射圖的花樣可以判斷該晶軸或晶棱方向的對稱性，有助於對晶體勞厄點群的研究。
