雙光源微焦斑結構分析儀

雙光源微焦斑結構分析儀是一種用於化學、藥學、材料科學領域的分析儀器，於2010年10月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：雙光源微焦斑結構分析儀
• 產地：德國
• 學科領域：化學、藥學、材料科學
• 啟用日期：2010年10月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

1：1耦合，光線透過率70％，高解析度：映象面積62mm×62mm，象素解析度高：15μm×15μm。

主要功能

用於測定各種無機物，有機物的晶體結構（可低溫測試較敏感樣品），可以獲得樣品的晶體結構信息和手性有機小分子的絕對構型。