雙光束散斑干涉法

實驗應力分析方法，屬於散斑干涉法的一種。用於測量板的變形和振動，用於輪胎的無損檢驗以及用於測量人的耳膜在各種聲響下的振動等。

基本介紹

• 中文名：雙光束散斑干涉法
• 外文名：dualbcam speckle interferometry

原理

在相干光照明下，把待測表面漫反射所形成的散斑場，和固定且不變形的另一表面的漫反射所形的散斑場疊加，構成一個新的散斑場。在待測表面發生變形的過程中，這個疊加而成的散斑場將發生如下變化：變形體表面沿法線方向每移動1/2波長的距離，斑的明暗變化就形成一個循環。當物體表面有不均勻的離面位移時，凡是位移為1/2波長及其整數倍的地方，散斑仍是原來的狀態。變形前後斑的亮度分布的細節完全相同的區域，稱為相關部分；反之，則稱為不相關部分。故可以採用適當的方法，把相關部分的干涉條紋顯示出來，從而了解物體表面的全場變形狀況。

套用

雙光束散斑干涉法用於測量板的變形和振動，用於輪胎的無損檢驗以及用於測量人的耳膜在各種聲響下的振動等。