單光束散斑干涉法

實驗應力分析方法，屬於散斑干涉法。主要用於測量物體表面的平動、傾斜和應變，如孔周的應變集中，蜂窩夾層板的變形，平面問題的應變和斷裂力學實驗中的位移場等。而雙光束散斑干涉法主要用於測量板的變形和振動，輪胎的無損檢驗以及測量人的耳膜在各種聲響下的振動等。

基本介紹

• 中文名：單光束散斑干涉法
• 外文名：singlebeam speckle in terferometry

基本原理

在被雷射照明的物體表面以外的空間，形成隨機分布的散斑場。分布在空間的散斑，稱為客觀散斑；通過透鏡成象而記錄在平面上的散斑，稱為主觀散斑。物體發生微小變形，散斑也隨之發生變化，它們之間有著確定的關係。把物體表面變形前後所形成的兩個散斑圖，記錄在同一張底片。底片上的每個小區域，和物體表面的小區域一一對應；當此區域足夠小時，在底片上對應的小區域內的兩個散斑圖幾乎完全相同，只是錯動了一個與物體表面位移有關的小的距離。這時各個斑點都成對出現。其錯動的距離和方位，代表所對應的物體表面小區域的移動。用光學信息處理的方法，對所記錄的底片進行分析，就可以得到物體表面的位移或位移的微分的分布。

圖1 散斑產生原理圖

記錄方法

既可以直接記錄客觀散斑，也可以通過透鏡記錄主觀散斑。通常採用的信息處理的方法，有逐點分析法和全場分析法兩種。

圖2 散斑形貌圖

套用

單光束散斑照相已廣泛用來測量物體表面的平動、傾斜和應變，如孔周的應變集中，蜂窩夾層板的變形，平面問題的應變和斷裂力學實驗中的位移場等。利用側向散射光所形成的散斑，可以測量透明試件內部任一截面的位移和變形。