基本介紹
- 中文名:關鍵光刻層
- 外文名:critical layer
關鍵光刻層,在積體電路製造流程中,需要進行很多次光刻,光刻層的圖形大小不一,而圖形較小的光刻層的工藝水平通常決定了積體電路的性能和器件的良率,這些較小圖形光刻層被稱為光刻關鍵層。在光刻中,有些光刻層的圖形尺寸較大,例如,...
雙重光刻技術是金屬層和接觸孔圖形最常用的工藝技術,其拆分方法直觀、掩模數量需求較少、對圖層的設計規則要求相對寬鬆。LELE可以採用多種方法來實現,它們各有利弊。圖1為雙重光刻流程,首先,硬掩模層(如SiN)被沉積在襯底上,光刻膠...
計算光刻是依靠專用軟體包來實現的,這些軟體包都是有專門的供應商提供的。一個晶片的尺寸最大可達32mmx26mm,其中最小圖形的線寬只有10nm,因此,一個光刻層的版圖檔案可達幾百個GB。而且隨著技術節點的推進,計算光刻的模型也越來越...
國際半導體技術路線圖(international technology roadmap for semiconductor,ITRS)對每一個技術節點的光刻工藝都提出了套刻誤差的要求,如表1所示。從表中可以看出,隨著技術節點的推進,關鍵光刻層允許的對準偏差(即套刻誤差)是以大約80...
近年來,為了降低掩模三維效應提出的不透明的MoSi掩模(opaque MoSi on glass, OMOG)也屬於雙極型掩模,OMOG被廣泛套用於32 nm 及以下技術節點關鍵光刻層的掩模生產中。雙極型掩模的結構及其在矽片上得到的電場及強度分布如圖1所示:從...