閆保軍

閆保軍，中國科學院高能物理研究所副研究員。

基本介紹

• 中文名：閆保軍
• 職業：副研究員
• 畢業院校：中國科學院電工研究所

工作與學習

2015-10~現在，中國科學院高能物理研究所，副研究員

2013-07~2015-09，中國科學院高能物理研究所， 助理研究員

2010-09~2013-07，中國科學院電工研究所，工學博士

2008-09~2010-07，北京理工大學，理學碩士

2004-09~2008-07，唐山師範學院，理學學士

社會兼職

2017-05-19-今，International Journal of Mass Spectrometry審稿人

2013-01-01-今，Materials Science and Engineering B 審稿人

發表論文

（1） Band offset measurements in atomic-layer-deposited Al2O3/Zn0.8Al0.2O heterojunction studied by X-ray photoelectron spectroscopy, Nanoscale Research Letters, 2017, 第 1 作者

（2） MCP Performance Improvement Using Alumina Thin Film, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 2017, 第 2 作者

（3） Band alignment of atomic layer deposited MgO/Zn0.8Al0.2O heterointerface determined by charge corrected X-ray photoelectron spectroscopy, Applied Surface Science, 2016, 第 1 作者

（4） Single electron counting using a dual MCP assembly, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 2016, 第 4 作者

（5） Nano-oxide thin films deposited via atomic layer deposition on microchannel plates, Nanoscale Research Letters, 2015, 第 1 作者

（6） Homogenous thin films prepared on microchannel plates via atomic layer deposition, Asia-Pacific Materials Science and Information Technology Conference (APMSIT 2014), 2014, 第 1 作者

（7） Influence of bandgap grading of intrinsic layer and annealing post on the optical and electrical performance of amorphous silicon germanium thin film solar cells, SPIE, 2014, 第 1 作者

科研項目

（ 1 ） 新型微通道板探測器關鍵技術研究, 參與, 國家級, 2016-01--2020-12

（ 2 ） 江門中微子實驗課題4, 參與, 部委級, 2013-01--2015-12

（ 3 ） 基於ALD技術的新型微通道板探測器研製, 主持, 市地級, 2014-05--2016-05

（ 4 ） 新型二次電子發射薄膜及其在電子倍增器中的套用研究, 主持, 國家級, 2017-01--2020-12

（ 5 ） 質譜儀器用高性能微通道板探測器的研發及產業化, 參與, 省級, 2017-01--2018-06

參與會議

（1）Secondary electron yield of nano-thick aluminum oxide and its application on MCP detector 2017-05-22

（2）Influence of High Secondary Electron Emission Nano-oxide Thin Films on the Performance of Dual MCP Assembly 江門中微子實驗第九次國際合作組會 2017-02-13

（3）Band offset of Al2O3/AZO determined by XPS 2016-10-16

（4）Valence and conduction band offsets of atomic layer deposited Al2O3/AZO heterojunction determined by XPS 第16屆ALD技術國際會議 2016-07-24

（5）Band alignment of atomic layer deposited MgO/ZnO:Al2O3 hetero-interface determined by X-ray photoelectron spectroscopy 第15屆ALD技術國際會議 2015-06-27

（6）nano-oxide thin films deposited by atomic layer deposition on microchannel plates 中國第三屆ALD技術會議 2014-10-16