量子效率測量系統

量子效率測量系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的科學儀器，於1970年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：量子效率測量系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：1970年1月1日

技術指標

可以瞬間測量絕對量子效率（絕對量子產率）。對應粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道光譜儀、大大減少了在紫外範圍中的雜散光。由於採用了積分半球單元，實現了明亮的光學系統，同時利用其優點再激發螢光校正，可以進行高精度測量。另外，QE - 2100量子效率的溫度依存性測量和紫外線～近紅外線的寬的波長範圍也可對應。

主要功能

量子效率（量子產率）的測量 ·激發波長依賴測量 ·發射光譜測量 ·PL激發光譜測量 ·EEM（Excitation Emission Matrix）測定。