低溫顯微螢光測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2015年12月10日啟用。
基本介紹
- 中文名：低溫顯微螢光測試系統
- 產地：英國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2015年12月10日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
冷頭變溫範圍：4.2K~450K；顯微鏡專用L型設計，樣品位置溫度7K；冷頭與膨脹頭分離，軟連線確保超低震動；極限震動<1um；確保震動＜5um;（工作狀態）；溫度穩定：＜0.1K。樣品倉尺寸：直徑：19mm；高度1.5mm~7mm連續可調；紫外石英視窗；配備專用玻片及粉末樣品架；樣品視窗直徑：25.4mm，ClearView：23mm。*採用50ohm加熱絲，加熱溫度450K；頻率：60Hz，致冷功率[email protected]；4W@10K。配置兩個溫度探頭。真空罩材料:Aluminum；直徑：127mm；寬度：127mm。*輻射罩：OFHC銅製鍍鎳輻射罩。抽氣接口1-NW25。壓縮機，50Hz，190V~210V；功率：3kW；預充99.999%高純氦氣,噪聲水平：60Dba;水流量：2.3L/min；水溫：10℃~35℃；尺寸：L（483mm）XW（434mm）XH（516mm）。光譜陣列探測器：空間解析度：1024X255；*光譜範圍：200nm~1100nm；峰值量子效率：>55%；像元尺寸：26umX26um。
主要功能
對半導體材料光致發光譜進行測量。
