通道攜帶型相控陣探傷儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器，於2018年11月28日啟用。
基本介紹
- 中文名：通道攜帶型相控陣探傷儀
- 產地：法國
- 學科領域：工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期：2018年11月28日
- 所屬類別：物理性能測試儀器 > 探傷儀器 > 超聲探傷儀
技術指標,主要功能,
技術指標
常規參數:工作溫度：-10°C to 45°C 存儲溫度：-10 to 60°C 帶電池, 支持熱插拔 重量：小於或等於6.5kg 防護等級：IP66 / MIL-STD-810G 相控陣技術:線性掃查(E掃), 扇形掃查 (S掃),複合掃查(Compound) 面陣，雙晶面陣，雙線陣探頭的多角度掃查 支持線上深度聚焦、等聲程聚焦、投影聚焦 一次激發最大支持 64晶片 最大2048個延遲法則 最大8個組 與CIVA數據兼容。
主要功能
包含A、B、C、D、3D成像功能及常規UT和TOFD功能，功能包含： 1．64並行發射接收相控陣通道，可實現64晶片實時全聚焦TFM功能； 2．扇掃/線掃/合成掃描及CIVA工藝導入 3．支持線上深度聚焦/聲程聚焦及投影聚焦計算； 4．工件類型：板管焊縫、插管角焊縫、TKY鋼結構焊縫、複合材料及板管母材，支持工件CAD圖導入； 5．支持A、B、C、D、3D及TFM實時成像軟體；具備工件厚度修正功能，實現回波反轉顯示，對缺陷位置準確對應。 6．具備角度增益補償、TCG補償、DAC曲線以及DGS曲線自動計算生。
