攜帶型相控陣超聲成像檢驗系統

攜帶型相控陣超聲成像檢驗系統是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器，於2007年07月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：攜帶型相控陣超聲成像檢驗系統
• 產地：加拿大
• 學科領域：機械工程
• 啟用日期：2007年07月01日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 探傷儀器 > 超聲探傷儀

技術指標

支持多達128晶片的相控陣探頭，一次可激活16個晶片,系統頻寬0.75~20MHz，脈衝重複頻率20KHz可調; 脈衝發射/接收延時0~10um，2.5ns步進，100MHz A/D轉換，16個TCG/DAC曲線校準點，20dB/us，每個聚焦法則具有獨立的TCG/DAC曲線，可同時實現A、B、C、D、S和TOFD實時顯示，在編碼器採集過程中實時顯示三視圖。A掃描顯示可實現分區掃查和帶狀圖，A、B掃描顯示可無級縮放。

主要功能

1.相控陣扇形掃查技術 2.相控陣電子掃查技術 3.橫波脈衝反射（P/E）B-掃描、C-掃描和D-掃描技術 4.單通道衍射時差技術（TOFD） 5.多通道衍射時差技術（TOFD）。