《透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法(GB/T 18907-2002)》內容包括：範圍、原理、儀器設備、試樣、參照樣品、試驗方法、衍射譜的測量與計算等。《透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法(GB/T 18907-2002)》規定了用透射電子顯微鏡對薄晶體試樣微米級區域進行選區電子衍射分析的方法。本方法適用於各種金屬與非金屬晶體薄膜（包括粉末試樣與萃取復型試樣）的電子衍射分析。
基本介紹
- 中文名：透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
- 作者：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
- 出版社：中國標準出版社
- 出版時間：2003年4月1日
- 頁數：12 頁
- 開本：16 開
- ISBN：155066119336
- 外文名：Method of Selected Area Electron Diffraction for Transmission Electron Microscopes
- 語種：簡體中文
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法(GB/T 18907-2002)》的附錄A和附錄B為規範性附錄。本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出。本標準由全國微束分析標準化技術委員會歸口。本標準由北京科技大學材料物理與化學系、北京有色金屬研究院測試所起草。本標準主要起草人：柳得櫓、劉安生。
圖書目錄
前言
1範圍
2原理
3儀器設備
4試樣
5參照樣品
6試驗方法
6.1儀器準備
6.2選區電子衍射譜的獲得
6.3衍射常數Lλ的測定
7衍射譜的測量與計算
附錄A（規範性附錄）純金與純鋁的晶面間距表
附錄B（規範性附錄）單晶體的標準衍射譜
B.1面心立方晶體的低指數晶帶衍射譜
B.2體心立方晶體的低指數晶帶衍射譜
B.3密排六方晶體的低指數晶帶衍射譜
參考文獻
