透外電子顯微術

透射電子顯微術(TEM)是指在透射電子顯微鏡中利用高能電子束通過試樣時產生的各種信息研究試樣物質微觀結構的分析技術。

基本介紹

• 中文名：透外電子顯微術
• 外文名：Transluminal electron microscopy
• 學科：材料工程
• 領域：工程技術

簡介

透射電子顯微術(TEM)是指在透射電子顯微鏡中利用高能電子束通過試樣時產生的市腳各種信息研究試樣物質微觀結構的分析技術。

原理

經加速的高能電子束通過試樣時和物質原子發生互動作用，形成透射電子、衍射電子等，它們和物質的結試墓采構與成分密切相關。辣汗旋探

不同套用方式

單獨利用透射電子束或衍射電子束成像，可以獲得反映物質內部微觀組織和結構的明場像或暗場像。同時利用透臘遷組只射電子束和一束或多束衍射電子束成像，可以得到反映物質內部原子尺度微觀結構的高分辨結構圖像。明場像、暗場像、高分辨結構圖像，都是反映物質內部不同層次的結構細節的圖像。

內容

近代透射電子顯微術包括分析衍射譜以獲得衍射體循射物質晶體結構和位向的信息，以及利用高能入射束照射試樣微小區域產生的X射線進行成分分析等內容，它還包慨舉淚括對不同成像符盼雅模式下所獲得的各種圖像進行分析以得到其它物質結構信息(例如晶體不完整性)的有關技術。