超深亞微米積體電路銅互連可靠性研究

超深亞微米積體電路銅互連可靠性研究

《超深亞微米積體電路銅互連可靠性研究》是依託西安電子科技大學,由馬佩軍擔任項目負責人的青年科學基金項目。

基本介紹

  • 中文名:超深亞微米積體電路銅互連可靠性研究
  • 項目類別:青年科學基金項目
  • 項目負責人:馬佩軍
  • 依託單位:西安電子科技大學
  • 批准號:60506020
  • 申請代碼:F0406
  • 負責人職稱:副教授
  • 研究期限:2006-01-01 至 2008-12-31
  • 支持經費:21(萬元)
中文摘要
深亞微米積體電路技術的發展,帶來了晶片內部的高互連密度、高工作頻率和高電流密度,與此對應,銅互連布線系統的可靠性逐漸成為深亞微米晶片可靠性的關鍵問題之一。本項目旨在結合實驗樣品的設計、測量與分析,深入研究銅互連線(包括通孔)的電遷移、熱效應、介電應力等問題,對以上問題的失效機理、表征與測量方法進行系統研究,結合樣品實測結果和計算機仿真實驗,建立銅互連失效的實驗與理論協調模型,以期對高可靠銅互連繫統的設計起到相應的指導作用。

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