超景深三維顯微鏡是一種用於機械工程領域的分析儀器，於2011年11月18日啟用。
基本介紹
- 中文名：超景深三維顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：機械工程
- 啟用日期：2011年11月18日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
CCD：1/8，像素：1628×1236解析度。
主要功能
測試。
超景深三維顯微鏡
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