解析糾正，是指據像片斷面數據或數字高程模型，用解析方法在正射投影儀上實現的微分糾正。
基本介紹
- 中文名：解析糾正
- 外文名：Analytical correction
- 方法：數學解析
- 領域：測繪科學與技術
- 數據：像片斷面數據或數字高程模型
- 影像：正射影像
簡介,背景,原理,方法,
簡介
將像片的中心投影變換為成圖比例尺的正射投影，實現這一變換的關鍵是建立或確定像點與相應圖點的對應關係，這種關係可按投影變換用中心投影方法建立，也可以用數學解析方法用函式式確定。
背景
豎直攝影的航攝像片是地面的中心投影。要用航攝像片的影像來確定地物的平面位置，需要將像片由中心投影轉換為地面按一定比例尺的正射投影，並用正射影像的像片拼接鑲嵌成像片平面圖。
為了消除像片與像平面圖的差異，需要將豎直攝影的像片消除像片傾斜引起的像點位移和限制或消除地形起伏引起的投影差，並將影像歸化為成圖比例尺。
原理
按照數學解析糾正原理進行微分糾正時，是在模擬或解析測圖儀建立的立體模型上，或現有的地圖上，或從存貯於資料庫的數字高程模型中，採集地面高程坐標和獲取像片內外方位元素，建立像點與圖點之間的中心投影與正射投影的坐標的對應關係。或直接在立體模型上斷面掃描，將圖點對應的像點坐標順序記錄在磁帶上。依據以上方式建立的像點與圖點的坐標對應，在像片上按一定位置、方向、大小截取像元素(即圖底縫隙內各圖點在像片的對應構像)曬印到圖底相應的縫隙中。
在全數位化攝影測量中，經過影像數位化能獲得每個像素，像素麵積可小到25m×25m的灰度值。解析糾正是按共線方程用計算機求出像片每個像素對應的圖底坐標，或圖底正射投影點相對應的像點坐標，再經過灰度值的攝影測量內插(即灰度的重採樣)求得圖底各點的灰度值，曬印出來就是正射像片。原則上能實現像片的逐點糾正。
方法
微分糾正又稱正射投影技術，它是以圖底的縫隙即線元素（或棉元素）為糾正單元，適用於起伏地區與山地製作正射影像圖。由於以縫隙為糾正單元，故又稱縫隙糾正。微分糾正可分為直接式(中心投影式)微分糾正與間接式(函式式)微分糾正。使用的儀器為正射投影儀。
直接式微分糾正是按投影變換原理以縫隙為糾正單元的像片糾正方法。
