表面形貌儀

表面形貌儀

表面形貌儀是一種用於材料科學領域的計量儀器,於2007年12月12日啟用。

基本介紹

  • 中文名:表面形貌儀
  • 產地:美國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2007年12月12日
  • 所屬類別:計量儀器 > 電磁學計量儀器 > 直流電動勢副基準
技術指標,主要功能,

技術指標

1.重複性7.5? 2.最大測量範圍80mm 3.垂直測量範圍327um 4.垂直解析度13um,0.01 ? 5.垂直解析度64um, 0.04? 6.垂直解析度327um,0.2?。

主要功能

該儀器用於有機高分子發光顯示屏的表面形貌測試。

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