螢光光譜柱是較新型X射線螢光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用於煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，並能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。
基本介紹
- 中文名：螢光光譜柱
- 特點：重現性好，測量速度快，靈敏度高
- 樣品：固體、粉末、熔融片，液體等
- 分析對象：煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷
原理
當能量高於原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處於不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12～10-14s，然後自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷.當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。
它的能量是特徵的，與入射輻射的能量無關.當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，而是以輻射形式放出，便產生X 射線螢光，其能量等於兩能級之間的能量差。因此，X射線螢光的能量或波長是特徵性的，與元素有一一對應的關係。K層電子被逐出後，其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可產生一系列的譜線，稱為K系譜線。
