能量損失譜ELS;energy lOS.S 57f'CTrQ5CU7V低能電子束射於固體表面,部分能量因激發表面聲子,或表面原子、分子的振動能級。
基本介紹
- 中文名:能量損失譜
- 類型:化學化工領域術語
能量損失譜ELS;energy lOS.S 57f'CTrQ5CU7V低能電子束射於固體表面,部分能量因激發表面聲子,或表面原子、分子的振動能級。
能量損失譜ELS;energy lOS.S 57f'CTrQ5CU7V低能電子束射於固體表面,部分能量因激發表面聲子,或表面原子、分子的振動能級。簡介或電漿雷射。或表面電子能級等而損失,因而分析損失後的非彈性...
電子能量損失譜分析簡稱EELS(Electron Energy Loss Spectroscopy)是利用入射電子束在試樣中發生非彈性散射,電子損失的能量DE直接反映了發生散射的機制、試樣的化學組成以及厚度等信息,因而能夠對薄試樣微區的元素組成、化學鍵及電子結構等進行分析。當電子穿過樣品時,它們會與固體中的原子相互作用。許多電子在穿過薄樣品...
電子能量損失譜(英語:Electron energy loss spectroscopy,縮寫:EELS)是物理學及材料科學等研究領域的重要表征手段,該技術始於1940年代。在電子能量損失光譜(EELS)中,具有已知動能的電子束入射待測材料後,部分電子與原子相互作用發生非彈性散射,損失部分能量並且路徑發生隨機的小偏轉,這個過程中能量損失的大小經電子能譜儀...
《電子顯微鏡中的電子能量損失譜學》是2011年高等教育出版社出版的圖書,作者是埃傑頓。內容介紹 《材料科學經典著作選譯:電子顯微鏡中的電子能量損失譜學(第2版)》主要內容:段曉峰等編著的《電子顯微鏡中的電子能量損失譜學》是目前國際上最主要的一本從基本原理、儀器、套用等方面對電子能量損失譜進行全面綜述的專著...
電子能量損失能譜[學]電子能量損失能譜[學](electron energy loss spectroscopy,EELS)是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》
電子能量損失譜學 電子能量損失譜學(electron energy loss spectroscopy)是2019年公布的物理學名詞。公布時間 2019年,經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《物理學名詞》第三版。
《基於反射電子能量損失譜方法獲取材料的光學常數研究》是依託中國科學技術大學,由丁澤軍擔任項目負責人的面上項目。中文摘要 本項課題研究基於反射電子能量損失譜(REELS)測量固體和超薄膜材料光學常數的新方法。材料的光學常數是其基本物性參數,決定了材料的光電性能,因而它的成功獲取對基礎研究和新材料的開發套用都...
電子能量損失譜儀 電子能量損失譜儀是2019年公布的物理學名詞。定義 測量試樣非彈性散射電子能量的電子能譜儀。出處 《物理學名詞》。
指標信息: 主真空室:≤6.7×10-8Pa,場發射電子槍燈絲,SEM束斑:≤6nm,電子槍束斑:≤7nm,信噪比:700:1,靈敏度:>700KCPS,能量解析度:1‰;二次電子像斑束直徑為9-200微米,32通道檢測器,微區分析靈敏度 附屬檔案信息: 場發射電子槍激發源,快速氬離子刻蝕槍,能量損失譜(EELS),多通道筒徑分析...
空位的產生可通過填補這個空位所涉及的俄歇過程或發射軟 X射線過程來探測 ,前者稱俄歇出現電勢譜,後者稱軟X射線出現電勢譜 。俄歇電子或軟X光子的能量與原子的殼層結構有關,並因元素而異,故利用出現電勢譜可鑑別原子種類。能量損失譜(ELS)以數百電子伏的電子束入射到表面,由於入射電子與表層內各種元激發(見...
《硼矽酸鹽微晶玻璃的透射電鏡顯微結構研究》是依託西安交通大學,由楊光擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 本項目通過球差校正掃描透射電子顯微鏡結合電子能量損失譜(簡稱能損譜)研究玻璃材料中析晶對玻璃結構的影響以及通過透射電鏡原位加熱實驗觀察玻璃材料中晶核的產生過程。鹼金屬硼矽酸鹽玻璃已被證實具有...
如將50~200eV 左右的低能電子束入射到固體表面,測量反射電子的能量損失如圖7所示,通過這種能量損失譜可得到體等離激元、表面等離激元等信息。能量損失也可用於激髮帶間的躍遷或芯態能級間的躍遷。 利用電子的隧道過程也可探測表面電子態。當離子接近固體表面時,表面價態中電子可通過隧道效應和離子中和,放出的...
《利用球差校正透射電鏡表征磷烯的原子和電子結構》是依託浙江大學,由金傳洪擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 原子尺度的結構-性能關聯表征是二維原子晶體研究中的重要基礎之一。本項目立項針對磷烯這一新型二維半導體材料,擬採用球差校正電鏡成像 和電子能量損失譜在內的多種顯微表征技術,確定層厚和層內起伏,...
電子束球差校正透射電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器,於2012年10月22日啟用。技術指標 1.TEM點解析度0.205nm;STEM信息解析度0.08nm;2.能譜能量解析度136eV,B5-U92;3.雙傾台轉角α~±40度,β~±30度;4.電子能量損失譜(EELS)能量解析度0.7eV;5.熱台室溫至1300度,冷...
本項目採用的高分辨電子能量損失譜方法,提供了鈉原子自電離態的一維新的信息-動量轉移依賴特性,而且這一方法既可以測量光學允許的自電離態,也可以測量光學禁戒的自電離態。具體而言,我們在入射電子能量2500eV和能量分辨60meV條件下,高分辨地測量鈉原子在不同散射角度的電子能量損失譜,獲得其2p和2s電子激發自電離...
陰極發光光譜可提供帶間能隙的信息,連續X射線譜攜帶了試樣中平均原子序數的信息,有助於對由輕元素構成的試樣進行定量分析的校正,電漿激元提供了試樣中價電子濃度的信息。當電子穿透薄膜試樣時,非彈性散射所導致的電子能量損失譜也有助於進行試樣的成分和結構分析,它和非彈性散射過程所發射的輻射是互補的。低能...
《鹼金屬原子的高分辨快電子激發研究》是依託中國科學技術大學,由鳳任飛擔任項目負責人的青年科學基金項目。中文摘要 在高分辨快電子能量損失譜儀上,利用KeV能量的單能電子束同靶原子分子相互作用,測量作用後的電子能量損失譜,研究原子分子的激發能譜、電子散射微分截面、廣義振子強度和光學振子強度,研究內容包括:(...
不僅如此,電子顯微鏡還發展成為一個全面的微束分析儀器,既能觀察幾個埃(┱)的微觀細節,還能進行幾十埃範圍的晶體結構分析(選區或微束電子衍射)和成分分析(X射線譜或電子能量損失譜)。X射線波譜和電子探針 聚焦的電子束照射到試樣上,使其中的原子失掉核外電子而處於激發的電離態(圖2a),這是不穩定的,外層...
《高空間分辨分析電子顯微學》是1987年8月科學出版社出版的圖書,作者是朱靜。內容簡介 本書主要論述高空間分辨分析電子顯微術的基本理論,包括一般透射和掃描透射成象技術,高分辨結構象及晶格象,電子能量損失譜及X射線能量譜,會聚束及μ-衍射,表面電子顯微術等。此外,對高空間分辨分析電子顯微術的實驗方法和套用...
6.3 薄膜試樣的X 射線能譜分析 6.3.1 X 射線固體探測器的原理 6.3.2 薄試樣成分定量分析原理及特點 6.4 電子能量損失譜及其定量微觀分析 6.4.1 電子能量損失譜儀 6.4.2 電子能量損失譜 6.4.3 電子過濾成像和衍射 6.5 分析電子顯微學進展 6.5.1 負球差係數成像技術 6.5.2 定量掃描透射電子...
對這些發射出來的電子進行能量分析, 可得到表面各種狀態中電子的能量分布和密度值。當用低能電子束激發表面時,要把表面上不同結合狀態中的電子激發發射出來,入射電子束就必須損失相應的能量,對入射電子經過散射後的電子束進行能量分析(即所謂電子能量損失譜),也可獲得表面各種狀態中電子的各種信息。上述紫外電子能...
套用電子顯微術———選區電子衍射和成像、高分辨電子成像和電子能量損失譜研究兩種材料的例子。電子衍射和相關理論的計算結果表明,0.2%碳鋼經923K,5.5h碳氮共滲油淬後的化合物層是εFe23(N,C),而不是εFe2(N,C)和εFe3(N,C);經523K,2h時效後化合物層中的"灰區"析出幾納米尺度的γFe4N是化合物層硬化...
《雙金屬表面的原子結構及電子狀態研究》是依託浙江大學,由李海洋擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 用角分辯紫外光電子譜、高分辨電子能量損失譜、低能電子衍射研究銫釕雙金屬表面的結構、電子狀態及其一氧化碳和一氧化氮吸附。發現鈀釕雙金屬表面上c2x2、p2x1和p3x1的有序結構。一氧化碳在鈀釕雙金屬表面吸附有...
2.4電子能量損失譜 2.4.1電子能量損失譜的基本原理 2.4.2EELS譜的套用 2.5X射線能譜 2.6電子的磁手性二向色性技術 第3章YMnO3中非對稱的二次電子產額 3.1簡介 3.2背景介紹 3.3實驗與計算 3.3.1掃描電鏡實驗 3.3.2掃描電鏡中樣品表面電勢的計算 3.4結論 第4章衍襯像解析多鐵六方錳氧化物拓撲...
另外,一些原初條件目前所知甚少,數學計算也有不少困難,原初條件主要是在早期時標內徑跡中各種瞬態粒子的濃度,因為這和初級輻射的能量損失譜有關,討論自由基(瞬態粒子)擴散和反應的初期輻射化學徑跡模型主要有兩類:(1)描述低的傳能縫密度輻射,其徑跡是由一些孤立的點跡,串.組成的,瞬態粒子4在點跡中的空間...
研究內容如下:利用球差校正高分辨透射電鏡原位觀察分析單根氧化鋅納米線本徵缺陷,並結合電子能量損失譜分析其電子結構;利用微區光致發光測試單根氧化鋅納米線變溫PL譜,揭示其缺陷態;製作基於單根氧化鋅納米線的場效應電晶體,在掃描電鏡真空環境中測試其電性能,獲得載流子濃度及遷移率等參數,並利用附屬於掃描電鏡...