| 中文名稱 | 聲學顯微術 |
| 英文名稱 | acoustic microscopy |
| 定 義 | 高解析度的超音波成像檢測技術。可以用於微電子產品的質量檢測、材料表面以及內表層微結構組織的成像和缺陷檢測。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
| 中文名稱 | 聲學顯微術 |
| 英文名稱 | acoustic microscopy |
| 定 義 | 高解析度的超音波成像檢測技術。可以用於微電子產品的質量檢測、材料表面以及內表層微結構組織的成像和缺陷檢測。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
聲學顯微術編輯 鎖定 討論 本詞條缺少信息欄、概述圖,補充相關內容使詞條更完整,還能快速升級,趕緊來編輯吧!中文名稱 聲學顯微術 英文名稱 acoustic microscopy ...
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