聲學顯微方法

聲學顯微方法是用電聲學技術來顯示被觀察物體細微結構的方法。為了實現分辨細微結構，聲學波的頻率可達數百兆赫乃至千兆赫，當採用的頻率為200兆赫時，對應的解析度可達9微米。實現該方法的裝置稱為掃描聲學顯微鏡(SAM)。SAM由超聲束髮生器、掃描裝置、細束聚焦系統、聲電轉換和監示器等部分組成。

監示器和掃描裝置必須同步工作。當掃描聲束到達被觀察樣品某部位時，由於該部位的彈性和周圍介質不同，因而產生不同的吸收或散射，從而獲取該部位的有關信息。經信息處理後，可在監示器上得到被測物體的整體圖像。由於無須染色，SAM可實現對活體的觀察。