聲學掃描顯微鏡

聲學掃描顯微鏡(SAM)是一種多功能、高解析度的顯微成像儀器，產於美國。

基本介紹

• 中文名：聲學掃描顯微鏡
• 型號：D9000
• 產地：美國

簡介

聲學掃描顯微鏡(SAM)是一種多功能、高解析度的顯微成像儀器，兼具電子顯微術高解析度和聲學顯微術非破壞性內部成像的特點, 被廣泛的套用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、質量保證及可靠性(QA/REL)、研發(R&D)等領域，可以檢測材料內部的晶格結構、雜質顆粒、內部裂紋、分層缺陷、空洞、氣泡、空隙等，為司法鑑定提供客觀公正的微觀依據。

代表設備

型號：D9000
產地：美國

設備優點

1、在不破壞物體的情況下，來實現對物體或材料的內部檢測。
2、能高精度識別受損部位

套用

聲學掃描顯微鏡 (SAM) 曾用於《對某型小轎車前方配置的安全氣囊是否存在質量缺陷鑑定》等司法鑑定案例中。