聚焦離子束刻蝕沉積系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2010年11月18日啟用。
基本介紹
- 中文名:聚焦離子束刻蝕沉積系統
- 產地:美國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2010年11月18日
- 所屬類別:分析儀器 > 樣品前處理及製備儀器
聚焦離子束刻蝕沉積系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2010年11月18日啟用。
第一節 聚焦離子束(FIB)無掩模離子注入 一、常規離子注入與FIB離子注入 二、常規離子注入技術 三、FIB離子注入技術 四、FIB離子注入技術的優缺點 第二節 聚焦離子束濺射刻蝕加工(FIB銑削)一、濺射產額與影響產額的主要因素 二、FIB輔助...
北京埃德萬斯離子束技術研究所股份有限公司於2001年03月08日成立。法定代表人刁克明,公司經營範圍包括:離子束刻蝕系統、沉積薄膜系統、真空系統及計算機控制系統的技術開發、轉讓、諮詢、服務、培訓;銷售開發後的產品、機械設備、電子產品、...
學院下設微納光學公共平台,擁有電子束刻蝕系統(EBL)、聚焦離子束刻蝕系統(FIB)、感應耦合等離子刻蝕機(ICP)、原子層沉積系統(ALD)、掃描電子顯微鏡(SEM)、原子力顯微鏡(AFM)等精密微納加工、表征和測試設備,面向學院全體教師...
雙束系統中場發射掃描電鏡主要用於觀察、分析和記錄材料的微觀形貌,聚焦離子束用來對樣品進行在微納米尺度下的圖形沉積、切割、刻蝕、透射樣品製備及原子探針針尖加工等工作。In SEM/FIB crossbeam system, SEM is utilized in observation ...
;電子束曝光解析度優於10納米、對準和拼接精度優於20納米的電子束直寫系統(EBL);離子束刻蝕解析度優於10納米、可輔助沉積或刻蝕、原位納米操縱與測量的雙束聚焦離子束系統(FIB);以及面積3英寸、解析度優於20納米的納米壓印系統。
8.4.1 電感耦合電漿刻蝕系統 8.4.2 Bosch工藝 8.4.3 納米結構的深刻蝕 8.4.4 反應離子深刻蝕中存在的問題 8.5 乾法刻蝕之三:電漿刻蝕 8.6 乾法刻蝕之四:離子濺射刻蝕 8.7 乾法刻蝕之五:反應氣體刻蝕 8.8 ...