結構光學顯微鏡

結構光學顯微鏡

結構光學顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2012年9月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:結構光學顯微鏡
  • 產地:德國
  • 學科領域:數學
  • 啟用日期:2012年9月1日
  • 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

主要配置包括:ZEISS全電動螢光顯微鏡AXIO IMAGER M2,APOTOME系統,高解析度、高靈敏度CCD,專用軟體。主要技術指標:1. 新的高性能光學系統ICCS,高解析度、高反差、高色還原。具有雙重色差校正性能,物鏡、目鏡獨立色差矯正設計;2. 高性能的電動主機,復消色差光路設計3. 調焦機構:諧波齒輪精細同軸粗微調焦機構,內置免調節防下滑機構4. 照明系統:直流100W長壽命鹵素燈泡5. 聚光鏡:電動萬能聚光鏡,具有明場、暗場、相差、DIC功能6. 螢光附屬檔案:消雜光干擾的光漏鬥技術,六孔螢光轉盤和精確定位的快裝機構7. 物鏡:高透光率螢光專用物鏡,在可見光範圍透光率大於90%8. 機構光學部件,消除非焦平面和標本彌散光。9. 高靈敏度圖像採集系統10. 專用分析軟體。

主要功能

ApoTome結構光學顯微成像系統是介於普通螢光顯微鏡與共聚焦顯微鏡之間的觀察及成像系統,可以用很高的解析度實現對細胞水平的螢光蛋白染色觀察,又可以通過數位訊號分析器將焦平面以外的光濾除後進行成像,得到類似於雷射共聚焦顯微鏡的效果,實現通過染色顯示亞細胞結構的目的;而其操作過程相比於共聚焦顯微鏡而言簡便快捷,不需要多種雷射發生器。它通過光柵對入射光進行分光,通過不同角度的入射光照射到樣品表面,所成像的不同,能得到2D或者3D的更清晰的螢光圖像,所得到的圖像質量接近雷射共聚焦顯微鏡的效果,是一般顯微鏡所無法比擬的。該技術獲得2003年全球RD 100研究大獎,RD 100大獎。

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