微分干涉差顯微鏡

微分干涉顯微鏡（DIC）出現於60年代，它不僅能觀察無色透明的物體，而且圖象呈現出浮雕狀的立體感，並具有相襯鏡檢術所不能達到的某些優點，觀察效果更為逼真。

基本介紹

• 中文名：微分干涉差顯微鏡
• 外文名：DIC
• 來歷，簡介：Nomarski發明了微分干涉差顯微鏡
• 技術設計：完全不同於相差顯微鏡
• 光學組件：偏振器等

來歷簡介

1952年，Nomarski在相差顯微鏡原理的基礎上發明了微分干涉差顯微鏡（differential interference contrast microscope）。DIC顯微鏡又稱Nomarski相差顯微鏡（Nomarski contrast microscope），其優點是能顯示結構的三維立體投影影像。與相差顯微鏡相比，其標本可略厚一點，折射率差別更大，故影像的立體感更強。

技術設計

DIC顯微鏡的物理原理完全不同於相差顯微鏡，技術設計要複雜得多。DIC利用的是偏振光，有四個特殊的光學組件：偏振器（polarizer）、DIC稜鏡、DIC滑行器和檢偏器（analyzer）。偏振器直接裝在聚光系統的前面，使光線發生線性偏振。在聚光器中則安裝了石英Wollaston稜鏡，即DIC稜鏡，此稜鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光（x和y），二者成一小夾角。聚光器將兩束光調整成與顯微鏡光軸平行的方向。最初兩束光相位一致，在穿過標本相鄰的區域後，由於標本的厚度和折射率不同，引起了兩束光發生了光程差。在物鏡的後焦面處安裝了第二個Wollaston稜鏡，即DIC滑行器，它把兩束光波合併成一束。這時兩束光的偏振面（x和y）仍然存在。最後光束穿過第二個偏振裝置，即檢偏器。

在光束形成目鏡DIC影像之前，檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光，從而使二者發生干涉。x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差值為0時，沒有光穿過檢偏器；光程差值等於波長一半時，穿過的光達到最大值。於是在灰色的背景上，標本結構呈現出亮暗差。為了使影像的反差達到最佳狀態，可通過調節DIC滑行器的縱行微調來改變光程差，光程差可改變影像的亮度。調節DIC滑行器可使標本的細微結構呈現出正或負的投影形象，通常是一側亮，而另一側暗，這便造成了標本的人為三維立體感，類似大理石上的浮雕。

產品優點

DIC顯微鏡使細胞的結構，特別是一些較大的細胞器，如核、線粒體等，立體感特彆強，適合於顯微操作。目前像基因注入、核移植、轉基因等的顯微操作常在這種顯微鏡下進行。

該圖是DIC顯微鏡下的硅藻（偽彩色）.