結構光三維掃瞄器是一種用於工程與技術科學基礎學科、測繪科學技術、機械工程領域的分析儀器，於2019年3月16日啟用。
基本介紹
- 中文名：結構光三維掃瞄器
- 產地：中國
- 學科領域：工程與技術科學基礎學科、測繪科學技術、機械工程
- 啟用日期：2019年3月16日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
掃描速率：480000次測量/秒 320000次測量/秒 相機幀率：60fps、120fps 雷射類別：Class II（人眼安全） 小解析度：0.05毫米、0.02毫米 精度：0.03毫米、0.03毫米 基準距：300毫米、150毫米 景深：250毫米、100毫米 有效工作範圍：200毫米~450毫米、100毫米~200毫米 輸出格式：.stl、ply、.xyz、.dae、.fbx、.ma、.obj、.asc。
主要功能
結構光三維掃瞄器可用來偵測並分析物體的幾何構造與外觀數據（如顏色、表面反照率等性質），蒐集到的數據進行三維重建計算，在虛擬世界中創建實際物體的數字模型。 RED標準掃描模式和BLUE精細掃描模式可以實時快速切換。其中RED標準掃描模式繼承了傳統手持雷射三維掃描功能和效果；而BLUE精細掃描模式則具備高配的拍照式三維掃瞄器非常好的三維特徵細節的特性。同時，上述兩種工作模式掃描所獲得的數據能集成在同一檔案中，兼顧單次掃描數據的整體效率和局部細節。
