納米陣列點樣儀

納米陣列點樣儀是一種用於物理學領域的工藝試驗儀器，於2012年7月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：納米陣列點樣儀
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2012年7月19日
• 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備 > 電路板製造工藝實驗設備

技術指標

製備從70納米到10微米範圍的自組裝有機分子圖案。

主要功能

納米材料製備。