粒子成像測速器PIV

粒子成像測速器PIV是一種用於力學、動力與電氣工程領域的物理性能測試儀器，於2005年6月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：粒子成像測速器PIV
• 產地：美國
• 學科領域：力學、動力與電氣工程
• 啟用日期：2005年6月1日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器

技術指標

1.無接觸測量速度矢量，同時測量一個面上的速度場 ，2.測量精度高，片光源面上速度精度0.1%，穿過片光源面方向0.2%， 3.測速範圍寬：0－1000m/s ，4.原理簡單，受外界影響小， 5.套用面廣，可以用於微尺度流動測量（微米量級），也可用於風、水洞測量，多相流測量 。

主要功能

該 PowerView PIV 系統能用於一個空間的三維速度場的瞬態測量。測量對象為水流或氣體流動。其套用範圍涵蓋了從低速風洞到超音速流動，從液體流動到氣體流動流場的測量.1，非接觸式測量。PIV技術不需要將測量感測器放入流場中就能很好的測量出結果。 2，能瞬間測量某個時間的面或者整個流場。 3，測量精度高，測速的範圍很大 4，可以進行測量兩相流，包括粒徑測量。 PIV現在被廣泛套用在風洞中的場景測量、湍流流場的測量和顆粒流的研究等領域，包括汽車風洞中的流場，河流流場，風沙流暢等測量研究。