粉末樣品晶體結構測量儀

粉末樣品晶體結構測量儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2011年09月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：粉末樣品晶體結構測量儀
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2011年09月28日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

桌面型低功率，陶瓷靶300 W；Cu靶 Ka1，波長0.15405 nm；角度解析度0.01°。

主要功能

基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。