內容簡介本書主要講述電子器件在空間環境中的單粒子效應，器件在空間套用時單粒子輻照效應的地面評估方法，及其空間套用時的錯誤機率計算。全書共17章，第1章和第2章主要介紹電子元器件空間單粒子效應的基礎知識；第3章至第5章對地面模擬空間單粒子效應的試驗進行詳細介紹、闡述試驗數據的分析方法；第6章講述試驗數據如何與器件機理進行對應；第7章、第8章、第11章至第17章講述空間單粒子翻轉錯誤率的計算與空間環境中的預估；第9章和第10章介紹兩種特殊的單粒子效應。
