《積體電路 CMOS圖像感測器測試方法》是2024年1月1日開始實施的一項中國國家標準。
基本介紹
- 中文名：積體電路 CMOS圖像感測器測試方法
- 外文名：Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
- 標準類別：方法
- 標準號：GB/T 43063-2023
編制進程,起草工作,
編制進程
2023年9月7日，《積體電路 CMOS圖像感測器測試方法》發布。
2024年1月1日，《積體電路 CMOS圖像感測器測試方法》實施。
起草工作
主要起草單位：中國科學院長春光學精密機械與物理研究所、重慶光電技術研究所、天津大學、長春精測光電技術有限公司、中國電子技術標準化研究院、深圳佑駕創新科技有限公司。
主要起草人：李俊霖、張濤、蘭太吉、楊永強、趙宇、聶真威、韓冰、金輝、馬洪濤、盧岩、徐江濤、劉昌舉、唐延甫、聶凱明、李金、高志遠、馬悅、劉國清、王琪、劉秀娟。
