《矽磚定量相分析 X射線衍射法(YB/T 172-2000)》在內容上部分參考了我國JJG/T 629—1989。在非金屬材料特別是矽磚中殘存石英含量的測定目前尚無標準，而矽磚中殘餘石英的含量是衡量矽磚質量的重要指標，對矽磚的生產控制及產品質量檢驗起到促進作用。本標準的附錄A為標準的附錄。
基本介紹
- 書名：矽磚定量相分析 X射線衍射法
- 作者：國家冶金工業局
- 出版日期：2001年2月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：155066213453
- 外文名：Phase Quantitative Analysis of Silica Bricks-X-raydiffraction Method
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：5頁
- 開本：16
- 品牌：北京勁松建達科技圖書有限公司
《矽磚定量相分析 X射線衍射法(YB/T 172-2000)》由全國耐火材料標準化技術委員會提出並歸口。本標準起草單位：洛陽耐火材料研究院、北京焦化廠山西盂縣西小坪耐火材料有限公司。本標準主要起草人：任剛偉、張慧榮、高宣鉉、趙孟喜。《矽磚定量相分析 X射線衍射法(YB/T 172-2000)》為中華人民共和國黑色冶金行業標準，YB/T 172—2000。《矽磚定量相分析 X射線衍射法(YB/T 172-2000)》國家冶金工業局發布。
