矽片缺陷觀測儀

儀器簡介

矽片缺陷觀測儀(HS-WDI)，對於矽片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。

矽片缺陷觀察儀

實時對圖像進行分析、測量和統計，提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結果。

儀器特點

■適用於對矽片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等；

■使矽片缺陷觀察工作簡單化，準確化，同時極大程度降低此項工作強度；

■實時對圖像進行分析、測量和統計，提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結果；

■使用 1/2"CMOS 感光晶片，具有體積小，技術先進，像素較高， 成像清晰 、線條細膩、色彩豐富；

■傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟體模組化設計；

■有效解析度為 200 萬像素；

■ 所配軟體能兼容 windows 2000 和 windows XP 作業系統。

實際觀察效果圖

如右圖冊所示：

觀察效果圖