相位都卜勒雷射粒子動態分析儀

相位都卜勒雷射粒子動態分析儀是一種用於材料科學領域的天文儀器，於2017年11月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：相位都卜勒雷射粒子動態分析儀
• 產地：丹麥
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2017年11月1日
• 所屬類別：天文儀器 > 天體測量儀器 > 都卜勒測距儀

技術指標

0.1%、1% 0.5~1000μm。

主要功能

利用多束雷射聚焦於測點，對通過測點的高速粒子的尺寸、速度進行快速測量，並自動導出尺寸分布，速度範圍等數據。