《用正電子湮沒譜學研究輻照缺陷的自修復機理》是依託武漢大學,由王柱擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名:用正電子湮沒譜學研究輻照缺陷的自修復機理
- 項目類別:面上項目
- 項目負責人:王柱
- 依託單位:武漢大學
《用正電子湮沒譜學研究輻照缺陷的自修復機理》是依託武漢大學,由王柱擔任項目負責人的面上項目。
《用正電子湮沒譜學研究輻照缺陷的自修復機理》是依託武漢大學,由王柱擔任項目負責人的面上項目。項目摘要先進核能系統的發展依賴於人們對反應堆材料的輻照損傷過程的進一步了解。本項目以納米結構材料的缺陷自修復行為為背景,採用正電...
正電子湮沒技術(Positron Annihilation Technique,PAT),是一項較新的核物理技術,它利用正電子在凝聚物質中的湮沒輻射帶出物質內部的微觀結構、電子動量分布及缺陷狀態等信息,從而提供一種非破壞性的研究手段而備受人們青睞。現在正電子...
本項目利用正電子湮沒譜學對原子尺度缺陷和缺陷的化學環境特別敏感特長,配合三維原子探針(3D-AP)、TEM及納米壓痕等方法研究國產RPV鋼和Fe-Cu模擬合金輻照後微結構與力學性能變化。輻照條件分別為110keV和240keV的質子輻照,以及3MeV的Fe...
《CdZnTe半導體輻照缺陷的正電子湮沒研究》是依託清華大學,由何元金擔任項目負責人的聯合基金項目。項目摘要 CdZnTe是最有發展前途的室溫半導體X,gamma射線探測器之一,目前套用中存在的主要障礙是難以製備大體積優質單晶,晶體缺陷造成的材料...
第二節 正電子湮沒壽命測量 一、測量原理 二、正電子湮沒壽命譜儀 三、譜儀參數選擇和標定 四、壽命譜的數據分析 五、壽命測量中若干問題的探討 第三節 正電子湮沒輻射角關聯測量 一、測量原理 二、一維角關聯測量 三、二維角關聯...
以超薄二維半導體的宏量製備、原位同步輻射技術表征和光電催化性能的研究為關鍵科學問題,利用正電子湮沒譜和理論計算來研究其缺陷結構和電子結構,探究溫和條件下超薄二維半導體薄膜器件的有序組裝並研究其組裝機理。
並通過正電子湮沒譜和深能級瞬態譜分析輻射產生的缺陷種類及結構、缺陷能級和缺陷退火的動態特性,研究質子輻射損傷的微觀機理,提供太陽電池空間抗輻射加固和太陽電池生產中抗輻射性能改進所需要的信息。
由於點缺陷行為對MoSi2多個主要性能有重要影響,點缺陷行為與性能之間的關係是壓力條件下MoSi2合金研究的關鍵問題。本項目通過第一原理密度泛函理論和正電子湮沒譜學實驗,擬針對壓力條件下MoSi2的點缺陷行為和氧原子擴散開展三點研究:1....
1. 國家自然科學基金:“用正電子湮沒譜學研究輻照缺陷的自修復機理”,項目負責人。2013-2016年;2. 中央高校基本科研業務費專項:“聚變條件下強輻射防護設計”,項目負責人,2010-2012年;2. 國家自然科學基金:“用高分辨數字式正...