《用於表征鐵基超導體電子向列相的復電阻抗測量方法》是南京尚眾微電子科技有限公司於2019年8月5日申請的專利，該專利公布號為CN110441602B，專利公布日為2021年6月18日，發明人是陳愷。
基本介紹
- 中文名：用於表征鐵基超導體電子向列相的復電阻抗測量方法
- 授權公告號 ：CN110441602B
- 授權公告日 ：2021.06.18
- 申請號 ：2019107161736
- 申請日：2019.08.05
- 專利權人：南京尚眾微電子科技有限公司
- 地址：211101江蘇省南京市江寧區東山街道東麒路6號A座11樓
- 發明人：陳愷
- Int. Cl.：G01R27/02(2006.01)I
- 專利代理機構：北京德崇智捷智慧財產權代理有限公司11467
- 代理人：黃雪
對比檔案,專利摘要,
對比檔案
CN 103336179 A,2013.10.02; CN 105974199 A,2016.09.28; CN 105160047 A,2015.12.16; CN 2126446 U,1992.12.30; CN 105929240 A,2016.09.07; JP H03277977 A,1991.12.09; US 5239269 A,1993.08.24
牛艷召.220Kv高溫超導天藍暫態特性及失超檢測研究.《中國優秀碩士學位論文全文資料庫 工程科技Ⅱ輯》.2019,(第05期),
專利摘要
一種用於表征鐵基超導體電子向列相的復電阻抗測量方法，包括施加交流電壓來對鐵基超導體的面內復電阻抗進行測量，也就是利用控溫裝置對樣件進行表征復電阻抗隨溫度變化關係，該控溫方式為：設定控溫裝置的軟體起始溫度為300K、終止溫度為5K和均降溫到終止溫度的時間為125分鐘，然後對樣件以上述設定進行降溫；等樣件降溫到5K後，以2K/分鐘進行均勻升溫。並結合其他步驟，該測量方法有效避免了現有技術在進行對鐵基超導體的面內電阻測量時，需施加壓力而使得該測量方法繁瑣且不便於操作；也避免了在通入直流電壓(流)的條件下，無法同時進行對鐵基超導體的面內電抗的測量而表征相應抗磁性的缺陷。
