《理科物理實驗教程》是2010年冶金工業出版社出版的圖書，作者是吳平。
基本介紹
編輯推薦,內容簡介,目錄,
編輯推薦
本書內容定位在理科學生完成約60學時基礎物理實驗課程之後的後續物理實驗課程。從培養學生實際工作能力和創新思維角度出發，書中精選實驗項目及內容，努力使其具有時代性和先進性，以激發學生學習探索的熱情，並切實給學生提供發揮其創造力的空間。本書將理科學生多個學期的實驗課程教學內容最佳化整合於一體，涵蓋電磁學實驗、光學實驗、近代物理實驗、現代物理實驗和課題型實驗。本書內容涉及許多科研、生產所套用的基本物理原理、測試方法和儀器裝置的使用，並隨課程的進行循序漸進地加強研究性實驗內容的強度，特別是現代物理實驗部分和課題型實驗部分，從實驗方法、內容到裝置的結構安排為開展有一定深度的研究型實驗搭建了很好的平台。
本書不僅是學生學習物理實驗課程時使用的教材，在他們未來工作中也是有幫助的參考書。
本書不僅是學生學習物理實驗課程時使用的教材，在他們未來工作中也是有幫助的參考書。
內容簡介
本書定位在基礎物理實驗課程(60學時左右)之後的後續物理實驗課程，內容涵蓋實驗數據處理、電磁學實驗、光學實驗、近代物理實驗、現代物理實驗和課題型實驗等6個部分，涉及許多科學研究與生產所套用的物理原理、測試方法和儀器裝置的使用。一些項目是由作者的科學研究實踐轉化而來，課題型實驗選題取自近年來有關物理和材料的一些研究熱點，注重與當前科學研究方法、手段、內容的銜接，凝聚和固化了北京科技大學物理系教師近年來取得的許多物理實驗教學研究成果和科學研究實踐。
本書可作為高等院校理科學生以及希望進一步學習物理實驗課程的工科學生物理實驗教學用書，也可供相關專業的研究生或其他人員參考。
本書可作為高等院校理科學生以及希望進一步學習物理實驗課程的工科學生物理實驗教學用書，也可供相關專業的研究生或其他人員參考。
目錄
1 測量誤差與實驗數據處理
1.1 測量與測量誤差
1.1.1 測量
1.1.2 測量誤差
1.2 誤差的分類
1.2.1 系統誤差
1.2.2 隨機誤差
1.2.3 粗差
1.2.4 隨機誤差與系統誤差的關係
1.3 隨機誤差的統計處理
1.3.1 常態分配
1.3.2 t分布
1.4 直接測量結果的表示
1.5 間接測量結果的表示和不確定度的合成
1.6 實驗數據的有效位數
1.6.1 有效位數的概念
1.6.2 有效位數的確定規則
1.6.3 數據修約的進舍規則
1.7 常用數據處理方法
1.7.1 列表法
1.7.2 作圖法
1.8 實驗數據的直線擬合
1.8.1 用最小二乘法進行直線擬合
1.8.2 用EXCEL軟體進行直線擬合
1.8.3 用ORIGIN進行直線擬合
2 電磁學實驗
2.1 磁場中載流導線的受力——安培力
2.2 用模擬法測繪靜電場
2.3 標定溫差電偶的刻度
2.4 用非平衡電橋組裝及標定電阻溫度計
2.5 交流電橋
2.6 RC電路
2.7 衝擊電流計的研究
2.8 鐵磁材料磁滯回線的測定
2.9 鐵磁材料居里點的測定
2.10 逸出功的測定
2.11 電子束的偏轉與聚焦
2.12 電子荷質比(e/m)的測定
2.13 金屬薄膜的製備及電阻率的測量
2.14 磁性薄膜磁電阻的測量
2.15 磁場分布、磁敏感元件特性研究
3 光學實驗
3.1 幾何光學
3.2 測量固體和液體的折射率
3.3 超聲光柵
3.4 分波面干涉實驗
3.5 雷射散斑法測量橫向微小位移實驗
3.6 壓電陶瓷振動的干涉測量
3.7 多光束干涉儀(F—P干涉儀)
3.8 夫朗和費衍射
3.9 菲涅耳衍射
3.10 偏振光的特性實驗
3.11 旋光儀
3.12 光學圖像微分實驗
3.13 全息照相(白光再現)
4 近代物理實驗
4.1 電子電荷e值的測定
4.2 汞原子激發電位的測定
4.3 用橫振動法測量固體材料在高溫下的彈性模量
4.4 光電倍增管的光譜特性
4.5 核蛻變的統計規律和物質對B射線的吸收
4.6 微波基礎實驗
4.7 微波光學實驗
4.8 用反射式諧振腔測量微波介質材料的介電常數
4.9 氫與氘原子光譜
4.10 鈉原子光譜
4.11 塞曼效應
4.12 鐵磁共振
4.13 核磁共振
5 現代物理實驗
5.1 電子順磁共振
5.2 光泵磁共振
5.3 變溫霍爾效應
5.4 干涉顯微鏡的使用
5.5 用干涉方法測量薄膜應力
5.6 振動樣品磁強計的使用
5.7 用阻抗分析儀測量介質薄膜材料的電容率
5.8 原子力顯微鏡的使用
5.9 電子束蒸發鍍膜儀的使用
5.10 磁控濺射鍍膜儀的使用
5.11 硼元素的徑跡顯微分析技術
6 課題型實驗
6.1 製備參數對銀薄膜電阻率和應力的影響
6.2 梯度薄膜的製備及薄膜應力的研究
6.3 製備參數對氧化鋅鋁透明電極材料電學性質的影響
6.4 工藝參數對NiFe薄膜磁電阻特性的影響
6.5 氧化鋁陶瓷薄膜材料的製備及電絕緣特性的研究
6.6 高K介電薄膜材料的製備及介電特性研究
附錄
附錄1 常用物理學常數表
附錄2 物理量的單位(SI基本單位)
附錄3 物理量的單位(SI導出單位)
1.1 測量與測量誤差
1.1.1 測量
1.1.2 測量誤差
1.2 誤差的分類
1.2.1 系統誤差
1.2.2 隨機誤差
1.2.3 粗差
1.2.4 隨機誤差與系統誤差的關係
1.3 隨機誤差的統計處理
1.3.1 常態分配
1.3.2 t分布
1.4 直接測量結果的表示
1.5 間接測量結果的表示和不確定度的合成
1.6 實驗數據的有效位數
1.6.1 有效位數的概念
1.6.2 有效位數的確定規則
1.6.3 數據修約的進舍規則
1.7 常用數據處理方法
1.7.1 列表法
1.7.2 作圖法
1.8 實驗數據的直線擬合
1.8.1 用最小二乘法進行直線擬合
1.8.2 用EXCEL軟體進行直線擬合
1.8.3 用ORIGIN進行直線擬合
2 電磁學實驗
2.1 磁場中載流導線的受力——安培力
2.2 用模擬法測繪靜電場
2.3 標定溫差電偶的刻度
2.4 用非平衡電橋組裝及標定電阻溫度計
2.5 交流電橋
2.6 RC電路
2.7 衝擊電流計的研究
2.8 鐵磁材料磁滯回線的測定
2.9 鐵磁材料居里點的測定
2.10 逸出功的測定
2.11 電子束的偏轉與聚焦
2.12 電子荷質比(e/m)的測定
2.13 金屬薄膜的製備及電阻率的測量
2.14 磁性薄膜磁電阻的測量
2.15 磁場分布、磁敏感元件特性研究
3 光學實驗
3.1 幾何光學
3.2 測量固體和液體的折射率
3.3 超聲光柵
3.4 分波面干涉實驗
3.5 雷射散斑法測量橫向微小位移實驗
3.6 壓電陶瓷振動的干涉測量
3.7 多光束干涉儀(F—P干涉儀)
3.8 夫朗和費衍射
3.9 菲涅耳衍射
3.10 偏振光的特性實驗
3.11 旋光儀
3.12 光學圖像微分實驗
3.13 全息照相(白光再現)
4 近代物理實驗
4.1 電子電荷e值的測定
4.2 汞原子激發電位的測定
4.3 用橫振動法測量固體材料在高溫下的彈性模量
4.4 光電倍增管的光譜特性
4.5 核蛻變的統計規律和物質對B射線的吸收
4.6 微波基礎實驗
4.7 微波光學實驗
4.8 用反射式諧振腔測量微波介質材料的介電常數
4.9 氫與氘原子光譜
4.10 鈉原子光譜
4.11 塞曼效應
4.12 鐵磁共振
4.13 核磁共振
5 現代物理實驗
5.1 電子順磁共振
5.2 光泵磁共振
5.3 變溫霍爾效應
5.4 干涉顯微鏡的使用
5.5 用干涉方法測量薄膜應力
5.6 振動樣品磁強計的使用
5.7 用阻抗分析儀測量介質薄膜材料的電容率
5.8 原子力顯微鏡的使用
5.9 電子束蒸發鍍膜儀的使用
5.10 磁控濺射鍍膜儀的使用
5.11 硼元素的徑跡顯微分析技術
6 課題型實驗
6.1 製備參數對銀薄膜電阻率和應力的影響
6.2 梯度薄膜的製備及薄膜應力的研究
6.3 製備參數對氧化鋅鋁透明電極材料電學性質的影響
6.4 工藝參數對NiFe薄膜磁電阻特性的影響
6.5 氧化鋁陶瓷薄膜材料的製備及電絕緣特性的研究
6.6 高K介電薄膜材料的製備及介電特性研究
附錄
附錄1 常用物理學常數表
附錄2 物理量的單位(SI基本單位)
附錄3 物理量的單位(SI導出單位)
