珍珠珠層厚度測定方法光學相干層析法

珍珠珠層厚度測定方法光學相干層析法

《珍珠珠層厚度測定方法 光學相干層析法(GB/T 23886-2009)》由中華人民共和國國土資源部提出。本標準由全國珠寶玉石標準化技術委員會歸口。本標準起草單位:國家珠寶玉石質量監督檢驗中心、清華大學、深圳市莫廷影像技術有限公司。本標準主要起草人:張蓓莉、柯捷、沈美冬、魏然、曾楠、何永紅、馬輝、王輝。本標準為首次發布。

基本介紹

  • 中文名:珍珠珠層厚度測定方法 光學相干層析法 
  • 作者:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
  • 出版社:中國標準出版社
  • 出版時間:2009年8月1日
  • 頁數:2 頁
  • 開本:16 開
  • ISBN:155066138260
  • 外文名:Determination of Nacre Thickness-Optical Coherence tomography
  • 語種:簡體中文
《珍珠珠層厚度測定方法 光學相干層析法(GB/T 23886-2009)》由中國標準出版社出版。

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