基本介紹
- 中文名：王德君
- 外文名：Dejun WANG
- 出生地：吉林德惠
- 畢業院校：清華大學
- 主要成就：博士生導師
- 代表作品：《半導體材料與器件表征技術》
人物簡介,研究領域,碩博研究方向,出版著作和論文,工作成果,
人物簡介
王德君(Dejun WANG)，吉林德惠人。吉林大學半導體材料（化學）專業本科、碩士，清華大學材料學博士，先後服務於北京大學、名古屋大學和奈良先端科學技術大學院大學，2004年7月被聘為大連理工大學電子科學與技術學院教授，博士生導師。
研究領域
1. 寬頻隙半導體SiC、GaN材料與器件科學
2. 功率晶片、感測器晶片設計製造及套用
3. 積體電路技術
4. 數字監控系統/無線感測器網路
碩博研究方向
一級學科博士點：電子科學與技術
二級學科專業：微電子學與固體電子學；物理電子學；電路與系統；電磁場與微波技術
2年制專業學位碩士：積體電路工程
出版著作和論文
[10] 劉冰冰 等. Chemical and electronic passivation of 4H-SiC surface. Applied Physics Letters, 104: 202101 (2014)
[09] 江...瀅 等. Field isolation for GaN MOSFETs. Semiconductor Science and Technology, 29: 055002 (2014)
[08] 王青鵬 等. Characterization of GaN MOSFETs. IEEE Transactions on Electron Devices, 61: 498 (2014)
[07] 朱巧智 等. Electrical and physical properties of 4H-SiC MOS interface. Physica B, 432: 89 (2014)
[06] 李文波 等. Oxidation of step edges on vicinal SiC surfaces. Applied Physics Letters, 103: 211603 (2013)
[05] 朱巧智 等. Passivation of SiO2/SiC interface traps. Applied Physics Letters, 103: 062105 (2013)
[04] 黃玲琴 等. Barrier inhomogeneities of metal/SiC contacts. Applied Physics Letters, 103: 033520 (2013)
[03] 李文波 等. Insight into the Oxidation and defects of SiC. Physical Review B, 87: 085320 (2013)
[02] 黃玲琴 等. SiC Ohmic contacts. Applied Physics Letters, 100: 263503 (2012)
[01] 朱巧智 等. SiO2/SiC interface transition region. Applied Physics Letters, 99: 082102 (2011)
[09] 江...瀅 等. Field isolation for GaN MOSFETs. Semiconductor Science and Technology, 29: 055002 (2014)
[08] 王青鵬 等. Characterization of GaN MOSFETs. IEEE Transactions on Electron Devices, 61: 498 (2014)
[07] 朱巧智 等. Electrical and physical properties of 4H-SiC MOS interface. Physica B, 432: 89 (2014)
[06] 李文波 等. Oxidation of step edges on vicinal SiC surfaces. Applied Physics Letters, 103: 211603 (2013)
[05] 朱巧智 等. Passivation of SiO2/SiC interface traps. Applied Physics Letters, 103: 062105 (2013)
[04] 黃玲琴 等. Barrier inhomogeneities of metal/SiC contacts. Applied Physics Letters, 103: 033520 (2013)
[03] 李文波 等. Insight into the Oxidation and defects of SiC. Physical Review B, 87: 085320 (2013)
[02] 黃玲琴 等. SiC Ohmic contacts. Applied Physics Letters, 100: 263503 (2012)
[01] 朱巧智 等. SiO2/SiC interface transition region. Applied Physics Letters, 99: 082102 (2011)
譯著：《半導體材料與器件表征技術》，大連理工大學出版社，2008年6月
原著：《Semiconductor Material and Device Characterization》by Dieter K. Schroder
原著：《Semiconductor Material and Device Characterization》by Dieter K. Schroder
工作成果
第一屆全國優秀博士學位論文獎，教育部，1999
新世紀優秀人才支持計畫資助，教育部，2006
大連市IT教師基金，新一代嵌入式圖像監控及處理系統的設計，2008
國家重大基礎研究（973）專項，新一代半導體SiC材料與器件基礎問題，2006-2007
