無接觸體電阻率型號測試儀

無接觸式電阻率型號測試儀是基於渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對矽料、矽棒、矽錠及矽片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。

基本介紹

• 中文名：無接觸體電阻率型號測試儀
• 頻率：50±3Hz
• 功率消耗：≤5W
• 尺寸：280x200x60mm

儀器特點

■①測試範圍廣，低阻可測至0.001ohm  cm，甚至0.0007ohm  cm,高阻可測至100ohm cm

■②產品體積小，便於移動和攜帶

■③採用渦流法測試矽錠、棒、回爐料體電阻率

■④無接觸、無損傷快速測試

■⑤測試前無需表面處理

■⑥特別對於多晶，能夠有效避免晶界對測試的影響

■⑦測試範圍：0.001-100 ohm cm (分段測試

■⑧可選加無接觸PN型號測試功能

⑨可進行溫度和厚度的修正

部分技術指標

矽棒矽塊可測量電阻率範圍：0.001-100Ohm cm

最小測試厚度：200μm

測量時間：2秒/次

最小測試面積：30x30 mm2

推薦使用溫度：20℃

濕度：≤80%

氣壓：86-106kPa

使用電壓：230±10V