渡越時間測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2010年3月31日啟用。
基本介紹
- 中文名：渡越時間測試系統
- 產地：日本
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2010年3月31日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
技術指標,主要功能,
技術指標
遷移度 : 10-7～10-1 cm2/Vsec； 樣品厚度 : 0.1μm～幾個 μm； 遷移時間 : 大於 10 nsec； 樣品溫度範圍 : -100℃～200℃溫度精度±1度； N2 雷射，波長 : 337.1 nm， 雷射能量 : 150 μJ， 脈衝寬度 : 0.6 nsec； 染料雷射（通過附加在N2 雷射器前的染料池獲得）； 波長範圍 : 357～710 nm， 光能量: 根據波長變化，脈衝寬度: 1 nsec； 光導玻璃纖維， 長度 : 2.5 m，直徑 : 800 μm； 保溫體：材料 : SUS，內徑 : 250 mm； 真空排氣裝置，真空度 : 6.7 Pa (5 x 10-2 Torr )， 旋轉泵 : 100 l/min，Pirani Pre 真空計，真空管: 主真空管, 三路閥門, 泄漏閥； 樣品池：Cu 體，溫度範圍 : -100℃～200℃，一對電極探針。
主要功能
直接測量注入的過剩載流子通過樣品的漂移時間，測量的結果比較準確，可以直接得出材料中的載流子的遷移率，還能夠給出載流子輸運的動力學信息。
