氣溶膠飛行時間質譜儀

氣溶膠飛行時間質譜儀

氣溶膠飛行時間質譜儀是結合美國加州河邊分校新開發的質譜檢測技術和TSI公司多年的氣溶膠儀器生產經驗,於2000年推出了世界首台商品化的氣溶膠“飛行時間質譜儀

基本介紹

  • 中文名:氣溶膠飛行時間質譜儀
  • 測量範圍::0.03-3μm
  • 解析度::每十進制32個通道
  • 質譜範圍::1-800 Da
技術參數,主要特點,儀器介紹,套用,

技術參數

4.質譜解析度:500 m/Δm
5.化學物種檢測限:10-18mol(平均值)
6.測速雷射:532nm波長,50mW功率
7.解離雷射:266nm波長,50mJ每脈衝

主要特點

1.基於單顆粒分析技術
2.多組分同時分析
3.現場實時分析
4.不損失揮發性組分
5.能揭示氣溶膠的瞬時變化

儀器介紹

TSI 3800型氣溶膠飛行時間質譜儀是結合美國加州河邊分校新開發的質譜檢測技術和TSI公司多年的氣溶膠儀器生產經驗,於2000年推出了世界首台商品化的氣溶膠“飛行時間”質譜儀,它的出現填補了實時分析氣溶膠化學成分的空白(能獲得每一氣溶膠顆粒的尺寸與其化學成分),徹底開拓了一個全新的氣溶膠科研方向。
3800-ATOFMS能夠提供粒徑為0.03~3μm的單個粒子的尺寸測量和成分分析。它使用空氣動力學單顆粒粒徑測量技術,對進入儀器的0.03~3μm的粒子進行粒徑測量,得到其粒徑分布。粒子飛行時間數據作為計時觸發器,精確計算每個粒子飛行至電離雷射的焦點區域時雷射發射並電離粒子,電離後的粒子進入後段的雙極飛行時間質譜儀,它將對雷射離子化的粒子進行化學成分分析,雙極探測器可以獲得每個粒子的正極和負極質譜。

套用

因為ATOFMS可以鑑別組成顆粒物的特殊化合物,因此它可以提供了新視角來考察粒子與周圍氣體以及其他顆粒物之間的動態化學過程。實時化學組分分析可以消除傳統的濾膜或碰撞器氣溶膠採樣方法的固有問題,比如二次化學反應或者半揮發性化合物的損失。3800-ATOFMS的套用包括:
· 氣溶膠分析研究
· 大氣粒子表征、排放源識別
· 半導體加工過程
· 氣溶膠-藥物釋放研究
· 藥物強化樣品分析
· 化學和生物氣溶膠檢測
· 發動機排放測量
· 粉末生產質量以及過程控制等。

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